A、一块
B、二块
C、三块
第1题:
外径千分尺测量面平行度,可以用平行平晶也可以用量块检定。但是在用量块检定时,应选择尺寸在杠杆千分尺测量上、下限之间的量块,其尺寸间隔为测杆的()的四块量块。
第2题:
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
第3题:
如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度?
第4题:
测量范围为(25~50)mm的千分尺,其测量面的平行度用何尺寸的平行平晶检定?
第5题:
测量上限大于100mm千分尺,其工作面的平行度,为什么不用平行平晶检定?
第6题:
用平行平晶来检定杠杆式卡规,两测量面的平行度,检定所需平晶数的()。
第7题:
千分尺两测量面的平行度可用平行平晶检定。目前,我国生产的平行平晶共分四组,可用来检定0~100mm四个规格的千分尺平行度。
第8题:
第9题:
第10题:
对
错
第11题:
对
错
第12题:
一块
二块
三块
第13题:
用平行平晶检定测微类量具的测量面平行性时,应在千分尺的测量范围内()选择和使用。
第14题:
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,当千分尺测量面与平行平晶接触时,必须在测力作用下接触,也可以转动微分筒接触。
第15题:
怎样用Ⅰ、Ⅱ组平行平晶检定大于50~150mm千分尺的平行度?
第16题:
对于千分尺测量面的平行度,可以用平行平晶检定,也可用量块进行检定,但用量块检定比用平行平晶检定精度高。
第17题:
用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,平行度如何确定?
第18题:
用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么?
第19题:
四块
一块
二块
第20题:
第21题:
对
错
第22题:
第23题:
第24题: