用平晶测量平面度误差时应如何评定？

题目

用平晶测量平面度误差时应如何评定？

相似考题

1.使用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时,应依次将四块厚度差为()螺距的平行平晶放入两测量面间,并调整平晶使其接触点在()时读数。

2.在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平晶平面度()。A、变凹B、变凸C、不变

3.用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A、0.9μmB、0C、1.8μm

4.用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。A、0.9μmB、0C、1.8μm

参考答案和解析
正确答案: 应用光学平晶测量小平面，测量时将平晶贴于被测表面上，若被测表面内凹或外凸，就会出现环形干涉带，根据环形干涉带数与光波的半波长的乘积来表示平面度误差。如果干涉条纹不封闭，可使光学平晶与被测表面间略微倾斜一个角度，使两者之间形成一空气楔。这种按干涉带的弯曲度与相邻两干涉带之间的比值，再乘以半波长即得误差值。不过，按此法评定的误差实际上是以直线度误差代替了平面度误差。
过去用平晶只能测小平面。近年来有了平晶干涉仪，应用这种仪器也可以利用平晶干涉法来测量较大的平面。
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  • 第1题：

    用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。


    正确答案:错误

  • 第2题：

    用指示器测量平面度误差时应如何操作和评定？


    正确答案:用指示器测量平面度误差，将被测零件用支承置于平板上，平板的工作面为测量基准。测量时，通常先调整被测实际表面上相距最远的三点与平板等高（调平），因此由指示器测得的最大读数与最小读数的代数差就是按三点法评定的平面度误差值。也可以调整被测实际表面上一条对角线的两端点与平板等高，再调整另一条对角线的两端点与平板等高，于是由指示器测得的最大读数与最小读数的代数差就是按对角线法评定的误差值。但这样调平比较困难，可按一定的布线测量被测表面，同时记录读数。一般可用最大与最小读数的代数差作为误差值。必要时，可按最小条件把各测点的读数进行数据的处理，求解误差值。

  • 第3题：

    测量高精度的小平面的平面度误差宜用（）。

    • A、准直望远镜
    • B、罐式水平量器
    • C、平晶

    正确答案:C

  • 第4题：

    评定平面度误差时，用三点法或对角线法评定合格的被测面，用最小区域法评定也一定合格。


    正确答案:正确

  • 第5题：

    用间接测量法测量平面度误差时，评定平面度误差时包容且距离为最小的俩（）平面间的距离。


    正确答案:平行

  • 第6题：

    用间接测量法测量平面度误差时，评定平面度误差是包容表面且距离为最小的两（）平面间的距离。

    • A、垂直
    • B、相交
    • C、平行

    正确答案:C

  • 第7题：

    如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？


    正确答案: 检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
    检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。

  • 第8题：

    用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？


    正确答案:用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度是根据平行平晶与两测量面的接触点在同一侧时，所产生的干涉条纹数确定。千分尺两测量面的平行度，是以其中一块平行平晶检定时产生干涉条纹数最多的确定。

  • 第9题：

    用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？


    正确答案: 产生光波干涉的条件是：
    ⑴频率相同的两光波在相遇点有相同的振动方向和固定的相位差；
    ⑵两光波在相遇点所产生的振动的振幅（强度）相差不悬殊；
    ⑶两光波在相遇点的光程差不能太大，若其光程差大于所用实际光波的相干长度则无干涉现象。

  • 第10题：

    判断题
    用平晶检定测量面的平面度时，其计算平面度的公式为F=λb/2a或F=n.λ/2，式中λ在任何条件下都为0.6。
    A

    对

    B

    错


    正确答案： 对
    解析： 暂无解析

  • 第11题：

    问答题
    检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？

    正确答案： 主要原因是平晶与测量面之间夹角太大，或操作时不注意使测量面上带有脏物所致。
    解析： 暂无解析

  • 第12题：

    问答题
    用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度如何确定？

    正确答案： 用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，平行度是根据平行平晶与两测量面的接触点在同一侧时，所产生的干涉条纹数确定。千分尺两测量面的平行度，是以其中一块平行平晶检定时产生干涉条纹数最多的确定。
    解析： 暂无解析

  • 第13题：

    用平面平晶检查平面度时，如出现三条直的且相互平行而等间隔的干涉条纹时，其平面度是（）。

    • A、0.9μm
    • B、0
    • C、0.3μm

    正确答案:A

  • 第14题：

    以下列举了几种测量直线度误差的方法。其中，（）最简便实用，适用于小平面或短圆柱面素线的直线度误差测量。

    • A、光学平晶等厚干涉法
    • B、测微法
    • C、激光准值仪法
    • D、光隙法

    正确答案:D

  • 第15题：

    用自准直仪测量平面度误差时应注意什么问题？


    正确答案: 用自准直仪测量平面度误差时，是将自准直仪置于被测零件之外的基座上，将反射镜安放在桥板上，并将桥板置于被测表面上。测量时，应先把自准直仪与被测表面调整到大致平行。然后用测量直线度误差的方法，按米字布线，先测出对角线上各测点的读数，再测出另一条对角线上各测点和其余截面上各测点的读数，并将这些读数换算成线值。根据测得的读数（线值），利用两条对角线的交点来确定符合对角线法则的理想平面，再按此理想平面求解平面度误差值。必要时再进一步按最小条件求解误差值。
    此方法可用不测量大平面的平面度。

  • 第16题：

    测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。


    正确答案:越大

  • 第17题：

    修理千分尺的测量面的平面度误差和平行度误差时，应（）。

    • A、先修平面度误差
    • B、先修平行度误差
    • C、两者可同时进行
    • D、先修误差大的

    正确答案:C

  • 第18题：

    用平行平晶检定千分尺两测量面的平行度时，当千分尺测量面与平行平晶接触时，必须在测力作用下接触，也可以转动微分筒接触。


    正确答案:错误

  • 第19题：

    在检定平晶平面度时，如果用手角摸平晶进行调整的时间过长，会使平晶的平面度（）。

    • A、变凹
    • B、变凸
    • C、不变

    正确答案:A

  • 第20题：

    检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？


    正确答案:主要原因是平晶与测量面之间夹角太大，或操作时不注意使测量面上带有脏物所致。

  • 第21题：

    用最小区域法评定平面度误差是按最小区域确定的理想平面作为基面来评定平面度的方法。


    正确答案:正确

  • 第22题：

    问答题
    如何用平晶检定外径千分尺测量面的平面度和平行度？

    正确答案： 检定平面度时，使用平面平晶接触测量面后，调出干涉带，按干涉带的形状计算其平面度。
    检定平行度时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两测量面间，转动微分筒，使两测量面与平晶接触，并调整平晶使其接触点在同一侧，干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数并取其和与所用光的波长值的计算结果作为两测量面的平行度。最后以4块平行平晶中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。
    解析： 暂无解析

  • 第23题：

    单选题
    在使用平晶时，如果用手触摸平晶时间过长，会使平晶平面度（）。
    A

    变凹

    B

    变凸

    C

    不变


    正确答案： C
    解析： 暂无解析

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