偏倚
Z-分数
delta值
总误差
临界系统误差
第1题:
Westgard质控图与Levey-Jennings图的主要区别是前者
A、可以区分系统误差和随机误差
B、同时测定低值及高值两个质控品
C、考虑了“多个”质控规则
D、使用测定值的标准差做图
E、以选定变异系数做图
第2题:
第3题:
拟更换新批号的质控品时,最好在“旧”批号质控品使用结束前,新批号质控品与“旧”批号质控品一起测定,目的是()
A建立新的均值和标准差
B节省时间
C质量控制
D增加质控物数量
E提高误差检出能力
第4题:
公式:[(第二次结果-第一次结果)/第二次结果]×100%,计算结果为()
第5题:
四个个连续的质控测定值同时超过+1s或-1s,两个质控品连续两次测定都超过+1s或-1s,为违背此规则,表示存在系统误差,该质控规则为_______。
第6题:
对分析前误差敏感的质控方法是( )
第7题:
公式:(质控物测定值-质控物平均值)/质控物标准差,计算结果为()
第8题:
靶值和标准差
变异系数和质控界限
质控规则和质控品稳定性
质控测定结果的个数(n)和质控规则
质控测定结果的个数(n)和质控品稳定性
第9题:
总误差
Z-分数
delta值
系统误差
随机误差
第10题:
随机误差
试剂问题导致的系统误差
仪器问题导致的系统误差
质控品问题导致的系统误差
疏失误差
第11题:
质控品要重复测定两次,取平均值
中心线值必须符合质控品表示的定值
质控品测定要和平日标本一样对待
质控品的测定必须要另外技术好的人员测定
质控品的靶值可以用说明书提供的值
第12题:
1个质控测定值超过均值±2s限,仅用作警告
2个连续质控测定值超过均值±2s限,为失控,提示存在系统误差
1个质控值超过均值±3s限,为失控,提示存在随机误差
4个连续的质控值同时超过均值+1s限或均值-1s限,为失控,提示存在系统误差
10个连续的质控值在均值的一侧,表示存在系统误差
第13题:
公式:[(第二次结果一第一次结果)/第二次结果]×100%,计算结果为
A、总误差
B、Z-分数
C、delta值
D、系统误差
E、随机误差
第14题:
第15题:
公式:(质控品测定值-质控物平均值)/质控品标准差,计算结果为()
第16题:
13s质控规则表示().
第17题:
室内质量控制哪一种做法是正确的()
第18题:
不同质量控制方法有不同的性能能力,其依赖于()
第19题:
偏倚
Z-分数
delta值
总误差
临界系统误差
第20题:
第21题:
偏倚
Z-分数
delta值
总误差
临界系统误差
第22题:
可以区分系统误差和随机误差
同时测定低值及高值两个质控品
考虑了“多个”质控规则
使用测定值的标准差做图
以选定变异系数做图
第23题:
第24题:
建立新的均值和标准差
节省时间
质量控制
增加质控物数量
提高误差检出能力