半高度法是指用缺陷最大反射波高度降低一半（-6dB）作为缺陷边缘的指示缺陷长度的方法。

第1题：

JB/T8467-96标准规定：底波降低量BG/BF（db）中的BG表示（）

• A、底面回波高度
• B、有缺陷处的底面回波高度
• C、无缺陷处的底面回波高度
• D、缺陷回波高度

第2题：

脉冲反射法可分为缺陷反射法、底波高度法、多次底波法。

第3题：

以下哪些缺陷尺寸的评定方法适用于焊缝等横波检测（）

• A、缺陷回波高度与底面回波高度比较
• B、缺陷回波高度与参考反射体回波高度比较
• C、以缺陷回波高度与基准波高的分贝差计算当量
• D、缺陷指示长度测定

第4题：

半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。

第5题：

接触法探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法测定缺陷大小。

第6题：

在超声波探伤中，缺陷的形状对缺陷反射波的高度有什么影响？

第7题：

采用小角度纵波法检测实心柱形支柱瓷绝缘子，下列选项中评定不合格的有（）。

• A、当反射波幅达到或超过5mm深人工切槽的缺陷时
• B、当反射波幅大于5mm深人工切槽-6dB的表面缺陷，且缺陷指示长度超过10mm的缺陷时
• C、当反射波幅大于5mm深人工切槽-6dB的内部缺陷，且缺陷指示长度超过20mm的缺陷时
• D、当缺陷处底波与正常底波比较有明显降低时

第8题：

第9题：

第10题：

第11题：

第12题：

第13题：

底波高度法经常作为缺陷回波法的一种辅助手段。

第14题：

什么是半波高度法？若发现一缺陷有多个波峰，该缺陷的长度应如何测定？

第15题：

与声束不垂直的光滑平面状缺陷反射波的显示不是（）。

• A、回波幅度与底面反射波高度相差不大
• B、底面反射完全消失
• C、缺陷反射波高于底面回波
• D、底波与缺陷波同时存在

第16题：

缺陷反射波的高度与缺陷的（），（），（）有关。

第17题：

影响缺陷反射波高度的因素有以下五个方面： ①（）； ②对被检工件来说，有探测面形状、厚度、粗糙度、晶粒结构、声速、衰减等； ③从缺陷角度看，有缺陷的深度、形状、方向、大小、内部介质等； ④耦合剂的衰减、声速、厚度等能影响反射波高度； ⑤声束的方向、扩散角、能量等也影响反射波高度。

第18题：

在超声波探伤中，缺陷的表面状态对缺陷反射波的高度有什么影响？

第19题：

第20题：

第21题：

第22题：

第23题：